隨著現代制造業的迅猛發展,對于光學測量儀(光學顯微測量儀和光學印象測量儀、二次元、三次元)的運用與挑戰成為必定。這個挑戰主要來自兩個方面,即可測性與效能性,前者在于滿足日益增多的質檢要求,后者在于滿足日益增大的質檢數量。整個社會的使用和挑選的價值觀,都直接和間接體現為對質控的需要,讓各類光學測量儀的(de)使用(yong)范圍越(yue)來越(yue)廣泛。不論日用(yong)電器或許(xu)各工業類產(chan)品(pin)的(de)發展都是(shi)兩大趨勢,即為集成化(hua)水平越(yue)來越(yue)高與(yu)功(gong)能越(yue)來越(yue)雜亂,然后(hou)導(dao)致零部件不可避免的(de)就會越(yue)來越(yue)小,成像(xiang)亮(liang)度計。
對小的(de)(de)(de)產(chan)品的(de)(de)(de)檢測(ce),隨幾(ji)許尺度的(de)(de)(de)縮小而變得(de)逾發不(bu)簡單,特別對于(yu)肉眼難(nan)以(yi)辨認的(de)(de)(de)鴻溝(gou),轉角或倒角等(deng)等(deng),都(dou)是需要由顯微擴大(da)的(de)(de)(de)光(guang)(guang)學體系所組成的(de)(de)(de)光(guang)(guang)學印象(xiang)體系來(lai)完結。光(guang)(guang)學檢測(ce)與丈量(liang)的(de)(de)(de)優勢(shi)就在于(yu)再小的(de)(de)(de)產(chan)品,能(neng)夠垂(chui)手可得(de)地擴大(da)后,游(you)刃有余地完結主動抓取鴻溝(gou)上的(de)(de)(de)點,并完結對特征是否合(he)格的(de)(de)(de)斷定(ding),這些都(dou)是在過去的(de)(de)(de)時代中難(nan)以(yi)想(xiang)象(xiang)的(de)(de)(de)。
SAIKEDIGITAL全(quan)主動(dong)印(yin)象(xiang)丈量儀(yi)和光(guang)學(xue)丈量顯微鏡(jing)都是利用CCD收集變(bian)焦(jiao)鏡(jing)下(xia)樣品的(de)(de)印(yin)象(xiang),前面配合(he)X、Y、Z軸(zhou)移動(dong)平臺及主動(dong)變(bian)焦(jiao)鏡(jing),經(jing)過印(yin)象(xiang)分析(xi)原理(li),使用計(ji)算機處理(li)印(yin)象(xiang)信(xin)號(hao),對(dui)科研樣品進行(xing)(xing)精細的(de)(de)幾許(xu)數(shu)據丈量,并進行(xing)(xing)數(shu)據運算。后者(zhe)針(zhen)對(dui)細微產品或產品的(de)(de)細微部分(5MM以下(xia)的(de)(de)幾許(xu)尺度),能夠直接進行(xing)(xing)屏幕檢測與丈量。結合(he)運用光(guang)學(xue)印(yin)象(xiang)丈量與光(guang)學(xue)顯微丈量,您能夠輕松地把握出產過程中的(de)(de)產質(zhi)量量和走勢,為您摸準和掌控質(zhi)量提(ti)供有力的(de)(de)支持,建立起(qi)您得(de)心應手的(de)(de)質(zhi)控方法(fa),成像亮度計(ji)。
光學丈(zhang)量(liang)儀(yi)(光學顯(xian)微丈(zhang)量(liang)儀(yi)和光學印象丈(zhang)量(liang)儀(yi)、二次元(yuan)、三次元(yuan))其(qi)底子在于其(qi)非觸摸性(xing)和基于機器視(shi)覺而(er)發展起(qi)來(lai)(lai)的(de)人(ren)工智能性(xing),光學丈(zhang)量(liang)儀(yi)的(de)發展和它所創造出來(lai)(lai)的(de)價(jia)值,正在為越(yue)來(lai)(lai)越(yue)多(duo)的(de)行業所知道和認(ren)同(tong),也(ye)逐(zhu)漸(jian)被更多(duo)的(de)世界(jie)知名品牌指定為他們的(de)質量(liang)保證必備(bei)措施(shi)和手段。