隨著現代制造業的迅猛發展,對于光學測量儀(光學顯微測量儀和光學印象測量儀、二次元、三次元)的運用與挑戰成為必定。這個挑戰主要來自兩個方面,即可測性與效能性,前者在于滿足日益增多的質檢要求,后者在于滿足日益增大的質檢數量。整個社會的使用和挑選的價值觀,都直接和間接體現為對質控的需要,讓各類光學測量儀的使用(yong)范圍越(yue)來(lai)越(yue)廣(guang)泛。不(bu)論日(ri)用(yong)電器或許各工業類(lei)產品的發展都(dou)是(shi)兩大趨勢(shi),即為集成(cheng)化水(shui)平越(yue)來(lai)越(yue)高與功能越(yue)來(lai)越(yue)雜亂,然(ran)后導致零部件(jian)不(bu)可(ke)避免的就(jiu)會越(yue)來(lai)越(yue)小,成(cheng)像亮度計。
對(dui)小的(de)(de)(de)(de)(de)產品(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測,隨幾(ji)許尺度的(de)(de)(de)(de)(de)縮(suo)小而變得逾發不簡單,特別對(dui)于肉眼難(nan)以(yi)辨認的(de)(de)(de)(de)(de)鴻(hong)溝(gou),轉(zhuan)角或倒角等等,都是(shi)(shi)需要(yao)由顯微擴(kuo)大的(de)(de)(de)(de)(de)光學(xue)體(ti)系所組成的(de)(de)(de)(de)(de)光學(xue)印象(xiang)體(ti)系來完結。光學(xue)檢(jian)測與丈(zhang)量的(de)(de)(de)(de)(de)優勢(shi)就在于再小的(de)(de)(de)(de)(de)產品(pin),能夠垂手(shou)可得地擴(kuo)大后,游刃有余地完結主動(dong)抓取鴻(hong)溝(gou)上(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)點(dian),并完結對(dui)特征是(shi)(shi)否合格(ge)的(de)(de)(de)(de)(de)斷定(ding),這些都是(shi)(shi)在過去的(de)(de)(de)(de)(de)時代中難(nan)以(yi)想象(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)。
SAIKEDIGITAL全主動印(yin)象丈量儀和光學(xue)丈量顯(xian)微(wei)鏡(jing)都是利用(yong)CCD收集變焦鏡(jing)下(xia)樣品(pin)的印(yin)象,前(qian)面(mian)配合X、Y、Z軸移動平臺及主動變焦鏡(jing),經過(guo)印(yin)象分(fen)析原理,使用(yong)計(ji)(ji)算機處理印(yin)象信號,對(dui)科研(yan)樣品(pin)進(jin)行精細(xi)的幾許數據丈量,并進(jin)行數據運算。后者針對(dui)細(xi)微(wei)產品(pin)或產品(pin)的細(xi)微(wei)部分(fen)(5MM以下(xia)的幾許尺(chi)度),能夠直接進(jin)行屏(ping)幕檢(jian)測與(yu)丈量。結(jie)合運用(yong)光學(xue)印(yin)象丈量與(yu)光學(xue)顯(xian)微(wei)丈量,您能夠輕松地把(ba)握出產過(guo)程(cheng)中的產質(zhi)量量和走勢(shi),為您摸(mo)準和掌控(kong)質(zhi)量提供有力的支持,建立起(qi)您得(de)心應手的質(zhi)控(kong)方法,成(cheng)像亮度計(ji)(ji)。
光(guang)學(xue)丈(zhang)量儀(yi)(yi)(光(guang)學(xue)顯(xian)微丈(zhang)量儀(yi)(yi)和(he)(he)光(guang)學(xue)印象(xiang)丈(zhang)量儀(yi)(yi)、二(er)次元(yuan)(yuan)、三次元(yuan)(yuan))其底子在于其非觸摸(mo)性和(he)(he)基于機器視(shi)覺而發(fa)展(zhan)起來的(de)(de)人(ren)工智能性,光(guang)學(xue)丈(zhang)量儀(yi)(yi)的(de)(de)發(fa)展(zhan)和(he)(he)它所創造出(chu)來的(de)(de)價值(zhi),正在為(wei)越來越多的(de)(de)行業所知(zhi)(zhi)道和(he)(he)認同,也逐漸被更多的(de)(de)世界知(zhi)(zhi)名(ming)品(pin)牌指定為(wei)他們的(de)(de)質(zhi)量保(bao)證必備措(cuo)施和(he)(he)手段。